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塑料簿膜薄片測厚儀 CH-12.7-STSX

發(fā)布時間： 2020-08-28　　點擊次數(shù)： 264次

塑料簿膜薄片測厚儀    型號： CH-12.7-STSX  

技術參數(shù)：

分度值：0.01mm

測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）

執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

技術參數(shù)：

分度值：0.01mm

測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）

執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數(shù)：

分度值：0.01mm

測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）

執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數(shù)：

分度值：0.01mm

測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）

執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數(shù)：

分度值：0.01mm

測量范圍與準確度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

用 途：于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定（大測量深度為80mm）

執(zhí)行 標 準：GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

 

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